[1]狄 非 许维胜.基于 Windows+RTX 平台的半导体实时测量 软件系统的开发[J].大众科技,2014,16(01):8.
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基于 Windows+RTX 平台的半导体实时测量 软件系统的开发
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《大众科技》[ISSN:1008-1151/CN:45-1235/N]

卷:
第16卷
期数:
2014年01期
页码:
8
栏目:
信息技术与通信
出版日期:
2014-03-29

文章信息/Info

Title:
Development of real-time semiconductor measurement software system based on Windows + RTX platform
文章编号:
1008-1151(2014)01-0008-04
作者:
狄 非 许维胜
同济大学电子与信息工程学院，上海 201804
关键词:
RTX; MFC; 半导体测量; 实时数据采集
Keywords:
RTX; MFC; measurement of semiconductors; real-time data acquisition
分类号:
TN30
文献标志码:
A
摘要:
随着半导体技术的发展，对半导体生产工艺的测量和评估的需求也在不断地提高。为此针对某半导体测量设备 的实时测量需求，在 Windows+RTX 的平台下，设计并开发了具有强实时性的测量软件系统。系统的底层测量软件利用 RTX 提 供的 API 和精确的时钟开发完成，其运行在 RTX 拓展系统中控制数据采集卡实时采集数据。上层用户界面使用 MFC 编制完成， 并采用信号量机制与底层软件进行通信，通过共享内存传递测量数据。该软件系统开发完成后，部署在某测量设备上并进行实 验，其实验数据表明该系统能很好地完成实时数据测量的任务
Abstract:
With the development of semiconductor technology, the demand for inspection and evaluation of semiconductor manufacturing process is increasing. In this paper, real-time semiconductor measurement software based on Windows +RTX platform is introduced. The lower measurement is developed using API and accurate clock provided by RTX, it runs in RTX subsystem to control data acquisition card to collect data in real-time. The user interface is developed in MFC; it uses semaphore to communicate with lower software and transfers measurement data through shared memory. The software system is tested on measurement equipment; the result shows the system is able to complete real-time measurement tasks.

参考文献/References:

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相似文献/References:

[1]许王燕.城市轨道交通列车运行图编制模拟系统[J].大众科技,2013,15(09):6.

备注/Memo

备注/Memo:
【收稿日期】2013-12-10 【作者简介】狄非（1986－），河南新乡人，同济大学电子与信息工程学院硕士研究生，研究方向为嵌入式系统；许维胜（1966 －），山东德州人，同济大学电子与信息工程学院教授，博士生导师，研究方向为智能自动化理论及应用。
更新日期/Last Update: 1900-01-01